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VJ系列3d線激光輪廓測量儀搭配高精度線激光測頭，結(jié)合高精度圖像分析算法，無接觸掃描3D輪廓成像，實(shí)現(xiàn)尺寸的快速精確測量。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據(jù)工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實(shí)現(xiàn)一鍵式快速精準(zhǔn)測量。

SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

中圖儀器W系列3d表面輪廓光學(xué)檢測儀能對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器，主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個精細(xì)器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測量儀是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測，具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。